Warning: mkdir(): No space left on device in /www/wwwroot/Z6.COM/func.php on line 127

Warning: file_put_contents(./cachefile_yuan/zhanglin.net/cache/fc/5037b/c58b5.html): failed to open stream: No such file or directory in /www/wwwroot/Z6.COM/func.php on line 115
MEMS金線光場檢測_產品動態_香蕉网视频爱爱(上海)科技有限公司

香蕉网视频爱爱(上海)科技有限公司

產品動態

在MEMS芯片的精密製造流程中,金線連接的品質是維係芯片卓越性能與可靠性的關鍵紐帶。AOI(自動光學檢測)技術,作為質量把關的關鍵利器,在此環節中發揮著不可替代的作用。

香蕉网视频爱爱光場相機技術引領封裝檢測領域新風尚,它如同一雙智慧之眼,革新了MEMS金線檢測的傳統方式。視頻中顯示的即為運用VisionHUB檢測平台實時檢測MEMS金線的動態演示過程。光場相機檢測係統實時捕捉並精準分析著金線連接的狀態,確保檢測過程既高效又全麵。

MEMS金線的檢測內容大致分為兩大維度:2D檢測與3D檢測。在2D檢測層麵,香蕉网视频爱爱專注於對焊球、球偏(即焊球位置偏移)、劃痕及表麵髒汙等表麵缺陷的精準識別,確保金線的物理連接無瑕可擊。而進入3D檢測領域,則進一步深化了對焊點形態、線軌路徑、線高一致性、塌線風險以及並線現象等深層次質量問題的檢測能力,全方位守護MEMS芯片的金線連接質量。

返回頂部
聯係方式 產品選型 網站地圖